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高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪TOF-S 是一款桌面型离线分光干涉式厚度测量装置,主要用于测量电子、光学用透明平滑薄膜和多层薄膜的厚度。实现高重复性测量,精度可达±0.01微米以下(取决于被测物和测量条件)。温度稳定性:受温度变化影响小,适合在不同环境条件下使用。非接触式测量:采用分光干涉式原理,无需接触被测物,减少对被测物的损伤。可以从薄膜的一侧进行测量,适合测量透明涂膜
产品型号:TOF-S
厂商性质:经销商
更新时间:2025-10-22
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高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪
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